Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
Patentrechtliche Grundlagen für Teile A, B,C, D, Dt/engl
Beck Rsw
ISBN 9783406707896 223 Seiten, Taschenbuch/Paperback
CHF 109.60
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Zum Werk
Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.
Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.